短鏈氯化石蠟檢測方法—氣相層析/電子捕捉負離子-質譜儀法(NIEA M502.00B)短鏈氯化石蠟檢測方法—氣相層析/電子捕捉負離子-質譜儀法(NIEA M502.00B) 公告日:111/03/03 實施日: 111/03/03 公告字號:1117101185 本方法現有關鍵字: 短鏈氯化石蠟、氣相層析 /電子捕捉負離子-質譜儀、SCCP、GC/ECNI-MS 公告法源依據:依本所職權 列印約略頁數 : 15 頁 已申請許可之各檢測類別檢驗項目: (如附件) 附件編號標題更新日期 檔案下載下載次數1M502.00B.pdf 111-03-04 PDF 71 2M502.00B.odt 111-03-04 ODT 39 3M502.00B函.pdf 114-02-03 PDF 38 4M50200B_許可檢驗室.pdf 115-09-03 PDF 0 許可檢驗室序號檢測類別名稱檢測項目名稱許可檢驗室該方法無任何檢驗室申請觀看次數:796 更新日期:115-09-03