短鏈氯化石蠟檢測方法—氣相層析/電子捕捉負離子-質譜儀法(NIEA M502.00B)短鏈氯化石蠟檢測方法—氣相層析/電子捕捉負離子-質譜儀法(NIEA M502.00B) 公告日:111/03/03 實施日: 111/03/03 公告字號:1117101185 本方法現有關鍵字: 短鏈氯化石蠟、氣相層析 /電子捕捉負離子-質譜儀、SCCP、GC/ECNI-MS 公告法源依據:依本所職權 列印約略頁數 : 15 頁 已申請許可之各檢測類別檢驗項目: (如附件) 編號標題更新日期檔案下載下載次數1M502.00B.pdf111-03-04 PDF 67 2M502.00B.odt111-03-04 ODT 39 3M502.00B函.pdf114-02-03 PDF 38 4M50200B_許可檢驗室.pdf115-02-23 PDF 0 觀看次數:785 更新日期:115-05-04